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產(chǎn)品詳細頁隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統(tǒng)(超聲法)
簡要描述:隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統(tǒng)(超聲法)儀器在非接觸狀態(tài)下可同時測量中心厚度和矢高用于基弧計算。特制的底座和定位夾具可使隱形眼鏡平穩(wěn)準確置于測量支座上。
- 城 市 :上海市
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時間:2023-06-29
- 訪 問 量:1793
產(chǎn)品介紹
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應用領(lǐng)域 | 綜合 |
隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統(tǒng)(超聲法)整個測量腔體包含一個塑料水槽和鏡片支座,鏡片支座的直徑為已知,超聲探頭從鏡片支座下方穿入,對準鏡片內(nèi)表面,其發(fā)出聚焦型聲波的焦點位于支架中心。鏡片支座上覆蓋有一層厚度非常小的塑料薄膜,塑料水槽內(nèi)注滿鹽溶液。只要將被測角膜接觸鏡凹面朝下放到支座上,塑料薄膜就成為矢高的基準位置。
測量時,超聲探頭產(chǎn)生一個穿透鹽溶液的銳聚焦超聲波能量短脈沖,這個脈沖的部分能量將從塑料薄膜,鏡片的內(nèi)表面、鏡片外表面,和鹽溶液表面反射回探頭。此時測厚儀就會記錄下整個回波,然后非常精確的測量*次回波和第二次回波間隔時間,以及第二次回波和第三次回波之間時間間隔。(第四次回波對應的是鹽溶液表面的反射,此處忽略。)
*次回波和第二次回波之間的時間間隔與塑料薄膜和鏡片內(nèi)表面之間的距離(即矢高)成正比的,第二次回波和第三次回波之間的時間間隔對應的就是鏡片的厚度。可以通過公式計算出鏡片的矢高和厚度。
而基弧的曲率半徑則可以由公式計算得到。
此處即可得到1-矢高,2-中心厚度,R-基弧曲率半徑
校準:
任何超聲測量設(shè)備的精度都取決于校準。對于角膜接觸鏡的測量,其精度取決于聲波在鹽溶液中的傳輸速度和特定的鏡片材料。請注意鹽溶液中的聲波速度會隨著溫度和濃度而顯著變化,且鏡片中的聲波速度也會受溫度和鏡片成份的影響。
建議的校準方法是在恒溫下測量一個已知基弧和中心厚度的樣品,然后校準超聲測厚儀的聲波。在校準良好的情況下,矢高和中心厚度的誤差范圍可以控制在+/- 0.01 mm。
隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統(tǒng)(超聲法)產(chǎn)品構(gòu)成
* 穿透性高精度多層超聲測厚儀
* 微型水浸式聚焦探頭和連接器
* 多層測量軟件(不含PC)
* 測量腔:含亞克力測量室和鏡片支座
* 夾具系統(tǒng):含可上下調(diào)節(jié)的定位裝置及四個夾具
* 夾具包含:通用型傾斜夾具(黑色+白色),快速夾具(黑色+白色)
隱形眼鏡中心厚度和基弧測量系統(tǒng)(超聲法)主要技術(shù)參數(shù)
* 厚度測量范圍:0.08~635mm(根據(jù)材料和探頭配置而定)
* 材料聲速范圍:0.508 mm/μs~13.998 mm/μs
* 分辨率:低分辨率0.1mm,標準分辨率0.01mm,高分辨率(可選)0.001mm
* 探頭頻率范圍:標準:2.0 MHz~30 MHz(–3 dB)
* 檢波:全波、RF波、正半波、負半波
* 測量層數(shù):4層(多層軟件選項)
* 具有差分模式和縮減率模式
* 時基B掃描模式,每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)
* 帶有數(shù)字式過濾器的高動態(tài)增益技術(shù)
* 輸出接口:MicroSD,USB,RS232,VGA
* 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄:475000個厚度測量讀數(shù),或20000個帶厚度值的波形
* 防護性能:IP67
* 電源:AC/DC適配器,24 V;鋰離子電池,23.760 Wh;或4節(jié)AA輔助電池。
* 夾具高度可調(diào)范圍:0~15mm
* 快速夾具孔徑:15mm臺階孔